LEXT OLS4500可以輕松實現從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍科算到高達百萬倍。找到觀測目标（觀察對(duì)象）後(hòu)，您可以在光學跳水(xué)顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而銀遠不用擔心目标丢失。并且您可以使用探針顯微鏡迅速而正确的完成(chén們草g)觀察，大大縮短了獲取影像的時(sh人機í)間。這(zhè)些便是OLS4500一體機的自由操作帶給您的益處。

更加方便、更加順利地完成(chén得鄉g)超大範圍觀察和測量。

實現了自由切換操作的LEXT OLS4500視國，閃亮登場。

OLS4500的顯微鏡技術樂我; 大木 &文窗nbsp; &n行這bsp; 作是 &nbs男樹p; &nbs長區p; 船動; &nbs女也p; 生拍近懂

♦ 光學(xué)顯微鏡的原理和特長(黃在cháng)

光學(xué)顯微鏡是從樣(yàng)品樂信上方照射可見光（波長(cháng)約400鐘得nm~800nm），利用其反射光成(ch劇笑éng)像，能(néng)夠放大嗎拿樣(yàng)品數十倍到一千倍左右進(jìn)場飛行觀察。光學(xué)顯微鏡的特長(cháng)是可以真實觀察彩月去色樣(yàng)品，還(hái)可以切換觀察方法，強調樣(yà山麗ng)品表面(miàn)的凹凸，利用物質特性（偏光性事校）進(jìn)行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。

● 明視場觀察：最基本的觀察方法，通過(guò)樣(yàng)品的反射光成(chén美小g)像進(jìn)行觀察

● 微分幹涉觀察：給樣(yàng)品表面(miàn)的微小凹凸添加明暗對(duì劇紙)比，使之變爲可視的立體影像

● 簡易偏振光觀察：照射偏振光 (有著(zhe)特定振動方向(xiàng)的光線)，把樣(yà訊通ng)品的偏光性變爲可視影像

明視場觀察　可以獲取顔色信息。

紙張上的墨點

♦ 激光顯微鏡的原理和特長(cháng)

可進(jìn)行亞微米級觀察和測動低量的激光顯微鏡（LSM: Lase綠兒r Scanning Microsco湖喝pe）

光學(xué)顯微鏡的平面(miàn)分辨率很大程度取決于光的光的國子和波長(cháng)，采用短波長(ch白身áng)的激光顯微鏡（LSM）比采用可見光的傳統顯微鏡遠化，擁有更高的平面(miàn)分辨率。

LEXT OLS4500采用405nm的短西道波長(cháng)半導體激光、高數值孔徑的專用物鏡、以及獨特的共焦光學(體兒xué)系統，可以達到0.12μm的平面(miàn)分辨率。此外，OLS風窗4500配有奧林巴斯獨有的掃描加掃描看工型2D掃描儀，可以實現高達4096×4096像素的些鐵高精度XY掃描。

卓越的Z軸測量

激光顯微鏡采用短波長(cháng)半導體激光和獨問黃有的雙共焦光學(xué)系統，現又會(huì)删除未聚焦區域的信号，隻將(jiāng)聚焦範圍唱雪内的反射光檢測爲同一高度。同時(shí)結合高精化大度的光栅讀取能(néng)力，可以生成(chéng)高畫質的影像，實紅場現精确的3D測量。

&nbs坐短p; 坐放 &nbs草事p; &nb空去sp; 朋裡;高度測量（微透鏡）

♦ 探針顯微鏡的原理和特長(cháng)

可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡（SPM: S校短canning Probe M商志icroscope）

探針顯微鏡（SPM）是通過(guò)機械式地從議用探針在樣(yàng)品表面(miàn)移動，檢測出煙刀探針與樣(yàng)品之間産生的力、人見電的相互作用，同時(shí)進(jìn)行掃描，從而得到樣(yàng)品很新影像。探針尖端曲率半徑爲10nm左右。典型的探針顯微上做鏡是原子力顯微鏡（AFM：Atomic Force Mi嗎喝croscope），它通過(guò)檢測探針和樣(yàng)品表區那面(miàn)之間作用的引力和張力進(制湖jìn)行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能(néng)夠觀察納米級微觀形關玩貌，可以捕捉到樣(yàng)品最精細的一面(mià美用n)。

&兵畫nbsp; &nbs雜機p; &nbs服農p; 校海 &湖商nbsp; 問師探針顯微鏡的原理

通過(guò)微懸臂掃描進(jìn)行納米級玩畫觀察

OLS4500上采用了光杠杆法——通過(guò)高靈敏度檢測雨地出最前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進(家商jìn)行觀測的方法。在懸臂的背面(miàn)反射激光，并用河地壓電元件驅動Z軸，使激光照射到光電檢測器的指定位置，從而爸熱正确讀取Z方向(xiàng)的微小位移。和花

&n動跳bsp; 習工; 器自 &nb森外sp;探針顯微鏡的原理

多種(zhǒng)觀察模式在影像低費中呈現表面(miàn)形狀和物性

探針顯微鏡擁有多種(zhǒng)觀察模式，可以觀察、測量樣(視站yàng)品表面(miàn)的形狀，還(hái)可以進(j小通ìn)行物性分析。OLS4500配有以下模式。

● 接觸模式：在影像中呈現表面(miàn)形狀（較兒大硬的表面(miàn))

● 動态模式：在影像中呈現表面(mià制他n)形狀 (較軟的表面(miàn)，有還慢粘性的表面(miàn))

● 相位模式：在影像中呈現樣(yàng)品表面(miàn)的物性差

● 電流模式*：檢測出探針和樣水南(yàng)品之間的電流并輸出圖像

● 表面(miàn)電位模式(KFM) * ：匠弟在影像中呈現樣(yàng)品表面(miàn)的電位通影

● 磁力模式(MFM)*：在影像中呈現樣(yàng)品表面(會作miàn)的磁性信息

*該模式爲選項功能(néng)。

店見 &nbs湖裡p; &n慢山bsp; &nb吧舞sp; 火下高分子薄膜

決定高精細度、高質量影像的微懸臂

探針位于長(cháng)度約100μm~200μm的薄片狀在風微懸臂的前端。您可以根據樣(yàng)品選擇影秒不同的彈簧常數、共振頻率。反複掃描會(huì)磨損探針，所以請根據錯水需要定期更換微懸探針。

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上一個 : 可控環境倉原下線子力顯微鏡下一個 : 3D測量激光顯微鏡間那OLS4100

産品詳情

從毫米到納米的超大範圍觀察和測量自由切換多種(z很西hǒng)顯微鏡觀察模式 &n哥遠bsp;

OLYMPUS LEXT OLS4500是結合區到了傳統光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針這來顯微鏡（SPM）功能(néng)的一又吃體機。LEXT OLS4500可以滿足不同樣(yàng)品的觀測需求，是一台站火新時(shí)代的觀察、測量裝置。

LEXT OLS4500可以輕松實現從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十西商倍到高達百萬倍。找到觀測目标（觀察對(duì)象）後(hòu)，錢我您可以在光學(xué)顯微鏡模式、激光匠計顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔心目标丢失。并且您可她校以使用探針顯微鏡迅速而正确的完成(chéng)觀察，大大縮短了獲取影像的時錢遠(shí)間。這(zhè)些便是OLS4500一體機的自由操作帶給您的益都秒處。

更加方便、更加順利地完成(ch路少éng)超大範圍觀察和測量。

實現了自由切換操作的LEXT OLS4500，閃亮要物登場。

OLS4500的顯微鏡技術 &nb友師sp; &n藍服bsp; 厭學 &妹懂nbsp; &答她nbsp; &nbs靜樂p; &nbs要學p; 務月; &n理件bsp; &路河nbsp; &nbs林小p;

♦ 光學(xué)顯微鏡的原理和特路司長(cháng)

光學(xué)顯微鏡是從樣(yàng)品上方照射可見光（波長(c山車háng)約400nm~800nm），利用村美其反射光成(chéng)像，能(néng)夠放匠場大樣(yàng)品數十倍到一千倍左我化右進(jìn)行觀察。光學(xué)顯微鏡的特長(cháng)是可以真實讀劇觀察彩色樣(yàng)品，還(há們著i)可以切換觀察方法，強調樣(yàng)品表面(miàn)的凹凸，利用物聽雨質特性（偏光性）進(jìn)行一雪觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。

● 明視場觀察：最基本的觀察方法，通過(guò)樣(yàng)品筆街的反射光成(chéng)像進(jìn)行觀察

● 微分幹涉觀察：給樣(yàng)品表面(miàn)的微小凹凸添加明暗對(duì)比視少，使之變爲可視的立體影像

● 簡易偏振光觀察：照射偏振光 (有著(zhe)特定振動方向道銀(xiàng)的光線)，把樣(yàng)品的偏光性變爲可視影像

明視場觀察　可以獲取顔色信息。

紙張上的墨點

♦ 激光顯微鏡的原理和特長(cháng)

可進(jìn)行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡（LSM:林短 Laser Scanning Microscope）

光學(xué)顯微鏡的平面(mià窗銀n)分辨率很大程度取決于光的光鐘家子和波長(cháng)，采用短雪家波長(cháng)的激光顯微鏡（LSM）工家比采用可見光的傳統顯微鏡，擁有更高的平面(miàn)分要視辨率。

LEXT OLS4500采用405nm的短波長(cháng)半導體激光、高數跳那值孔徑的專用物鏡、以及獨特的共焦光學(xué)系你不統，可以達到0.12μm的平面(miàn)分辨率。此外低劇，OLS4500配有奧林巴斯獨有的掃描加掃描型2D掃描儀，可以實現高達409雪門6×4096像素的高精度XY掃描。

卓越的Z軸測量

激光顯微鏡采用短波長(cháng)半導體激光和獨有的雙共焦可光光學(xué)系統，會(huì)删除未聚焦區域的信号，隻玩紙將(jiāng)聚焦範圍内的反射光檢測爲同一高度。同時(不高shí)結合高精度的光栅讀取能(說現néng)力，可以生成(chéng)高畫電請質的影像，實現精确的3D測量。

&n亮人bsp; &匠問nbsp; &nb呢區sp; 區我 &nbs雨秒p; &nb兒微sp; 高度測量（微透學答鏡）

♦ 探針顯微鏡的原理和特長(cháng)

可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡（SPM:你暗 Scanning Probe Microscope）區志

探針顯微鏡（SPM）是通過(guò)機械式海舊地用探針在樣(yàng)品表面(miàn)移動，檢測熱體出探針與樣(yàng)品之間産生的力、電的相互作用，同時(s友裡hí)進(jìn)行掃描，從而得到樣(yàng)品影像。探針尖端曲術林率半徑爲10nm左右。典型的探針顯微鏡是原子銀銀力顯微鏡（AFM：Atomic Force Microsco跳林pe），它通過(guò)檢測探針和樣(yàng)品表面(miàn輛分)之間作用的引力和張力進(jìn)行掃描并獲得影車校像。探針顯微鏡能(néng)夠觀察納米級微她會觀形貌，可以捕捉到樣(yàng)品最精細的一面(miàn)。

&nb跳見sp; &舊器nbsp; 山歌暗風; 如問探針顯微鏡的原數可理

通過(guò)微懸臂掃描進(jìn)行納米級觀察

OLS4500上采用了光杠杆法——通過(guò)高靈敏度檢測出最前計信端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進(jìn服店)行觀測的方法。在懸臂的背面(miàn)東費反射激光，并用壓電元件驅動Z軸，使激光照射到光電檢測些友器的指定位置，從而正确讀取Z方向(xiàng)的微小位移。錯做

&雜冷nbsp; &nb動唱sp; &多男nbsp; &n到近bsp; 探針顯微鏡的原一請理

多種(zhǒng)觀察模式在影像中呈現表面(miàn)形狀和物技的性

探針顯微鏡擁有多種(zhǒng)觀察模式，可以觀察影西、測量樣(yàng)品表面(miàn)的形狀，還(hái)可以進(jìn)行公相物性分析。OLS4500配有以下模式。

● 接觸模式：在影像中呈現表面(miàn)形狀（較硬的表面是可(miàn))

● 動态模式：在影像中呈現表面(miàn愛如)形狀 (較軟的表面(miàn)，有粘性的表面(miàn))

● 相位模式：在影像中呈現樣(yàng)品表面(m好會iàn)的物性差

● 電流模式*：檢測出探針和樣(yàng)品之間的電流并輸出圖像

● 表面(miàn)電位模式(動計KFM) * ：在影像中呈現樣(yàng)品表面(miàn)的電位

● 磁力模式(MFM)*：在影像中呈現樣(yàng)品表面(miàn)的磁現多性信息